摘 要：针对数字波控电路在星载控制电路应用中存在的单粒子翻转效应问题，提出了一种基于 DICE 单元的双稳态 D 触发器设计改进，设计了一种能够抵御众多类型单粒子翻转效应的 D 触发器，并基于该 D 触发器，结合电路级单粒子加固技术设计了一款串并转换芯片。测试表明，采用改进 D 触发器结构的波控芯片能够抵御至少 80 MeV 的单粒子效应事件。芯片峰值功耗不大于 10 mA，写入速率不低于 10 MHz，功耗为 1 mW/MHz。
关键词：单粒子效应；抗辐照；三模冗余
DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2022.06.010
中图分类号：TN79 文献标识码：A 文章编号：2096-4706（2022）06-0041-05
Research on a Strengthening Technique against Single Event Effect
QI Hefei, WANG Lei, WANG Xin, WANG Shaoquan, ZHANG Mengyue
(The 13th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation, Shijiazhuang 050051, China)
Abstract: In view of the problem of single particle flip effect, which exits in the digital wave control circuit in load control circuit application, this paper puts forward a bistable D trigger design improvement based on DICE unit, designs a D trigger which can resist many types of single particle flip effect. And based on the D trigger, combined with circuit level single particle reinforcement technology, it designs a string and conversion chip. Tests show that a wave-control chip with an improved D-trigger structure can resist the Single Event Effect events of 80 MeV at least. The peak power consumption of the chip is not more than 10 mA, the write rate is not less than 10 MHz, and the power consumption is 1 mW/MHz.
Keywords: Single Event Effect (SEE); Radiation resistance; Triple Modular Redundancy
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作者简介：齐贺飞（1988—），男，汉族，河北石家庄人，工程师，硕士，研究方向：数字和模拟混合集成电路设计。